Zeta100電位納米粒分析儀Zeta電位測量采用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta>電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩定。納米粒度分布采用動態光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快于較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度，利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。
測試范圍
-500mv ~ 500mv
粒度范圍
1nm-9500nm（與樣品有關）
樣品池容積
400μl
測試原理
ELS（電泳光散射）
散射角
15 度
*大濃度
40% w/v
相關器
1000通道線性相關器
電導率范圍
粒度測試范圍
1-9500nm（與樣品有關）
DLS( 動態光散射)
重復性誤差
≤1%（國標樣D50 偏差）
1000 個物理通道
準確性誤差
光源
固體激光器
1ml / 4ml
激光器波長
671nm
樣品池溫控范圍
15℃—90℃
激光器功率
50mW
溫控精度
±0.2℃
90 度
分子量范圍
1000Da—2x107Da
≤ 10%
SLS（靜態光散射）
≤ 5%
包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、**制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應用等領域。